納米粒度儀zeta電位分析儀采用動態(tài)光散射（DLS）原理來獲得范圍在0.3nm到6um的膠體體系粒度的分布。DLS是通過一束具有一定波長的動態(tài)激光束照射在懸浮于樣品溶液的粒子上面。這些相干光會從粒子上彈出而發(fā)生準彈性散射，在某一個時間段被檢測器探測到這些散射光強。粒子在樣品體系里做無規(guī)則的布朗運動，光以一定的入射角度照在粒子上，隨后發(fā)生散射，產(chǎn)生波動的光強度被探測器檢出。用自相關(guān)器來分析這些波動的變化可以獲得樣品粒子的分布情況。
 

　　大顆粒運動緩慢，小粒子運動速度快，波動頻率如左圖，如果測量大顆粒，那么由于它們運動緩慢，散射光斑的強度也將緩慢波動。類似地，如果測量小粒子，由于它們運動速度快，散射光斑的波動頻率也快。通過大顆粒和小粒子的相關(guān)關(guān)系函數(shù)?？梢缘玫剑嚓P(guān)關(guān)系函數(shù)衰減的速度與粒徑大小相關(guān)，小粒子的衰減速度遠大于大顆粒的。通過光強波動變化和光強相關(guān)函數(shù)計算出粒徑及其分布（Stokes-Einstein方程）。
 

　　Zeta電位為在滑動層上固體表面與液相之間電勢的衰減。電解質(zhì)流動的外部力平行應(yīng)用于固體與液體界面導致固定層與可移動層之間相對運動與電荷分離，由此得出實驗的Zeta電位。流動電勢的大小由液相的流動壓差P決定。Zeta電位即可定義為固體表面的固定層電荷與離子移動層之間的電勢，相應(yīng)的流動電勢系數(shù)為dU/dP。
 

　　納米粒度儀zeta電位分析儀注意事項：

　　1、若要進行酸堿滴定測等電點或測PH值，則每次實驗前須校正PH探針；若要測試溶液電導率，則須校正電導率。主探頭可每周校正一次；

　　2、每次更換樣品物需清洗主探頭、PH探針以及容器，要擦干，以免前面殘留粉末影向?qū)嶒灲Y(jié)果；

　　3、實驗結(jié)東后要清洗主探頭、PH琛針和容器，并將PH探針放回酸性沖液中；

　　4、若進行酸碔滴定則每次關(guān)機前需將酸堿滴定管凊洗3～5次。